> 硕士毕业论文 > 58400字硕士毕业论文软件工程硕士论文范文:50位自动高温反向偏置测试软硬件规划

58400字硕士毕业论文软件工程硕士论文范文:50位自动高温反向偏置测试软硬件规划

论文类型:硕士毕业论文
论文字:58400字
论点:漏电,设计,工作
论文概述:

此次设计从从选题到设计完成,历时1年,其中经过论文选题、设计方案可行性论证、设计电路、电路调试测试和论文书写几个阶段,其中,查阅了大量数据采集、自动控制和晶体管参数测试等

论文正文:

第一章简介

节能灯用二极管长期工作在高温高频启停状态,对二极管的寿命和可靠性提出了很高的要求。对于目前节能灯上下灯管和电子镇流器常用交替导通和工作的电路,感应负载产生的自感应电势后峰值电压施加到导通管上并释放。至于二极管的故障和损坏,一致认为功率击穿是灯二极管损坏的主要原因,这是在二极管的功率容限由于二极管的加热而降低之后,二极管的功率击穿造成的。降低二极管本身的热损耗是提高二极管可靠性的重要措施。
在设计节能灯整流电路时,共同关心的参数是耐压BVCEO、BVCBO、DC放大系数hFE和二极管存储时间ts。因为BVCEO决定击穿电压(包括电感峰值反向电压等)。)二极管工作时能够承受的,BVCEO与饱和压降VCESAT和安全工作区SOA相关联。一般来说,耐压BVCEO大,饱和压降VCESAT大,安全工作区
也大。DC放大系数hFE决定了驱动器设计的大小。同时,hFE具有较大的上升时间tr和下降时间。作为工作周期的一部分,存储时间TS影响工作频率和功率输出。因此,设计者往往更加关注二极管,二极管直接决定了设计的节能灯能否“点亮”。
在开关工作状态下,晶体二极管上消耗的热损耗功率由以下两部分组成:
沃夫-VCE x我
韩元-VCES x集成电路
vt x it x ot/t(f of vtit dt/t)
目前,我国节能灯功率管的质量并不稳定,除了仙童和st等几个进口品牌,从二极管失效和损坏的分析中,我们发现主要影响是二次击穿特性、热阻sblunwen.com硕博纸网是中国专业硕士论文网站。为发表小学德育论文题目、小学德育论文、小学德育案例、教师对论文题目的评论和教师论文提供服务。联系方式:QQ 1847080343,电话13795489978。二极管在关断状态下的功耗主要由反向泄漏电流Icex决定。在常温下,Icex通常很小,所以二极管的截止功率不大。然而,当运行后温度上升时,Icex变得更大,其功耗也变得更大,加速温度上升会导致恶性循环,直至影响正常运行。另一方面,反向漏电流的增加软化了PN结的击穿特性,使二极管容易烧坏。二极管的高温漏电流特性在一定程度上决定了节能灯能否长时间稳定“点亮”。因此,许多制造商在出厂前的泵送测试期间推进了高温漏电流测试,即高温反向偏置测试。
高温反向偏置测试(High temperature reverse bias test)是指在设定温度环境下(一般为150℃,对半导体器件施加80%-90%的反向工作电压,验证时间一般为168小时或1000小时)的漏电流特性测试。我公司主要生产节能灯、射灯、大功率、高反向电压开关二极管和开关电源用场效应晶体管,反向电压范围在400伏至800伏之间。实验表明,在本公司车间每批生产22件,可以有效验证该批产品的高温漏电流质量。
目前,国外半导体器件高温反向偏置老化标准包括美国军方的JESD22-A113 0。中国没有这样的标准。许多制造商还根据美国的JESD22-A 113进行可靠性老化测试。
早期的试验台制造商包括伊本·埃斯佩克和美国的几家公司。早期实验台主要采用外部测试电源,以标准加热炉作为环境设备加热实验周期,以耐高温印刷电路板作为实验基板。实验电路中,用串联采样电阻检测C极或E极的漏电流,用C极或E极的串联熔断器作为过电流开路保护方式,在C和E之间施加反向偏置电压,实验时间由时间继电器控制。早期试验台的功能很简单。不同的实验需要更换不同的采样电阻和保险丝。实验误差较大,数据不能实时自动记录。

3.6可编程器件设计........25-27
3.7多氯联苯设计........27-29
3.8电路调试........29-31
第4章编程高压电源........31-46
4.1设计方案的比较........31-37 [/BR/] 4.1.1开关电源模式........31-36 [/BR/] 4.1.2线性电源模式........36-37 [/BR/] 4.2提升和扩展电流设计........37-40 [/溴/] 4.3耗散功率控制........40-41
4.4电路设计........41-43
4.5电路调试........43-46
第5章数字/模拟、模拟/数字转换........46-58
5.1数模转换器设计........46-52
5.1.1数模转换器的分类........46
5.1.2数模转换器的组成........46-47
5.1.3数模转换器技术........47-48
5.1.4电路设计........48-51
5.1.5电路调试........51-52
5.2模数转换设计........52-58
5.2.1模数转换器........52
5.2.2模数转换器主要技术........52-53
5.2.3模数转换器电路设计........53-56
5.2.4模数转换器电路调试........56-58

摘要
设计从主题选择到设计完成持续了一年。它经历了几个阶段,包括选题、设计方案的可行性论证、电路设计、电路调试和测试以及论文写作。其中,查阅了大量关于数据采集、自动控制和晶体管参数测试的书籍。设计主要参考和借鉴晶体管常规参数测试仪的设计和公司现有的高温反向偏置试验台,并根据公司的要求进行了大量的优化设计。各种功能电路板的设计制造满足性能要求,完成设备制造,并投入正常使用。它们与公司现有的测试台相辅相成,从而减轻公司产品常规测试的压力。
在设计过程中,有几个总结和经验:
1。二极管的几个主要参数都随着温度的变化而变化,如BV CEO“ICEO”HFE“TS”。在产品的应用中,应充分考虑温升引起的各项性能指标的变化,并在设计时增加裕度。

参考
[1]陈锡文。输入输出连接编程的介绍和应用。机械工业出版社,1996,3-33
[2]马明健,周长城。数据收集和服务1。科技。Xi交通大学出版社,1998,33-47,71-125
[3]涂友,鲁花,张邱斌。硅整流单极竹的可靠性评估。黑龙江电力技术。1996,2:43-45
[4]李秀梅,李雪花,吕坤。以可编程逻辑器件为控制核心的16位高精度数字电压表的设计。半导体技术,2003,28(5):54-56
[5]郝宏伟,潘超。12位模数转换器AD 57804与51单片机的连接及编程。外国电力组件,2001年。4:45-47
[6]李志军、李欣然、尹姬。基于CPLD的多路数据采集系统模数转换器控制电路的设计。于聪·朱若岚,2006,34 (21): 53-57
[7]赵曙光,郭万友。可编程逻辑器件的原理、发展和应用。Xi安电科技大学出版社,2001。31-175
[8]阎荣江。高精度广告采集芯片AD 57809。国外电源组件,2001,1:31-32
[9]宋万杰,罗峰。可编程逻辑器件技术及其应用。Xi安供电科技大学出版社,1999,12-19,132-167
[10]马仲梅,张凯。单片机C语言应用程序设计。京航空航天大学出版社,1999,13-156